MEAW技术
系20世纪70年代由美籍韩国正畸医师Kim倡导，临床显示，该多曲弓丝力系对矫治一些难度较大的开合、反合、偏颌等畸形及对后牙咬合的后期调整有独特疗效。MEAW技术有如下几个特点：
一、诊断评估方法简易
Kim采用了头侧位片5个参考平面所构成的4个角的相关分析，提出判断骨面生长及拔牙指征的三个参考指数：
1. 垂直向异常指数（overbite depthindicator, ODI)
Kim通过研究119名正常合和500名有开合、正常覆合及深覆牙合三种前牙垂直关系的错合儿童侧位片，发现A-B平面与下颌平面的夹角、PP平面与FH平面的夹角之和与切牙覆合深度成正相关，并将上述两角度之和称为覆牙合深度指数ODI（overbite depth indicator), 该指数的正常值范围为73°±5°，ODI越大，越趋向于覆合加深。
研究认为，ODI大小与牙移动速度呈反比关系，因ODI越小，上下颌平面倾斜度大，上下后牙牙轴近中倾斜度也大，使向前咬合分力增大，牙移动速度加快，这也是高角病例后牙支抗容易丧失的原因。
2. 前后向不调指数（anterior-posteriordysplasia indicator, APDI)
Kim通过102例正常合及874例错合畸形儿童的模型及X线投影测量研究发现面平面与FH平面、面平面与A-B平面、PP平面与FH平面所呈角度之和与第一磨牙矢状向错位的距离高度相关，称其为前后向不调指数（anterior-posteriordysplasia indicator), 该指数的正常值范围为81°±4°。对于Ⅱ类的患者，APDI愈小，骨性Ⅱ类的可能性愈大；对于Ⅲ类的患者，APDI愈大，骨性Ⅲ类的可能性愈大。
MEAW技术应用于Ⅱ类Ⅰ分类错合的矫治及原理
生长发育高峰后期的安氏Ⅱ类Ⅰ分类错牙合畸形的治疗可采用牙骨协调的非拔牙矫治、拔除前磨牙的掩饰治疗或者是成年后的正颌治疗。而对于上下颌骨发育正常或仅有下颌后缩的生长发育高峰后期的患者可采用多曲方丝弓矫治技术配合短Ⅱ类牵引改正牙及颌骨问题。
研究分析了16名采用MEAW非拔牙矫治方法的生长发育高峰后期安氏Ⅱ类Ⅰ分类患者，平均年龄为15.6岁。采用0.022*0.028英寸的方丝弓或直丝弓托槽，弯制0.017*0.025英寸不锈钢丝多曲方丝，疗程为25.4月。16名拔除前磨牙的安氏Ⅱ类Ⅰ分类患者作为对照组。所有患者于术前和术后拍摄X线侧位片，CoreDRAW软件重叠每个患者术前、术后的侧位片，观察上颌骨、下颌骨及牙的变化。
MEAW技术应用于三类错牙合的矫治及原理
多曲方丝弓矫治技术（MEAW）是轻度骨性Ⅲ类错合正畸掩饰治疗的一种有效的方法，配合使用Ⅲ牵引，可直立下颌磨牙，重建咬合平面，协调上下颌牙弓及调整后牙转矩，在临床中受到很多正畸医师的青睐。
MEAW在矫正Ⅲ类错合时的原则是以带有靴型曲的下颌弓丝后倾加力，直立后牙；上颌为弯有三个序列弯曲的理想弓丝，在弓丝前段加冠舌向根唇向的转矩，防止前牙唇倾。MEAW技术中Ⅲ类牵引只作短距离的Ⅲ类牵引，即上颌牵引点在双尖牙区，而不是在恒磨牙区，这样可以防止上磨牙的升高而出现前牙的开合。在矫治过程中，若有前牙咬合变浅或开合趋向时，则在Ⅲ类牵引的同时在上下前牙作垂直牵引，防止开合的发生。
在临床中，医师们发现MEAW应用于Ⅲ类错合的治疗时存在一定的弊端，例如长Ⅲ类牵引会导致上颌磨牙的伸长及上前牙唇倾，下颌骨发生顺时针旋转，前面高增加。显然，这对高角患者是不利的，而Ⅲ类患者典型的解剖特征是高角。同时，上前牙唇倾的作用将使本来就代偿性唇倾的上前牙更加唇倾。如何消除Ⅲ类颌间牵引引起的副作用呢？
研究者在上颌第二前磨牙和第一磨牙颊侧植入直径为1.6mm、长9mm的微种植体，以其为支抗配合MEAW进行Ⅲ类牵引改正Ⅲ类错合。试验组上颌为无曲平直的0.019*0.025英寸不锈钢丝，下颌为0.018*0.025英寸不锈钢方丝弯制的MEAW；对照组上下颌均为0.018*0.025英寸不锈钢丝弯制的MEAW。矫治器采用0.022*0.028英寸直丝弓托槽。实验组Ⅲ类颌间牵引，上颌牵引至微种植体；对照组牵引至上颌第二磨牙。于术前、术后及术后一年拍摄全景片和侧位片，对相关角度及线距进行测量分析，比较两种矫治方法的治疗效果。